- Palettes
- Optique
- OMEGA 322(15)
- OMEGA 442(3)
- OMEGA 543(23)
- OMEGA 863(2)
- OMEGA Select(2)
- Tactile(23)
- Tomografic(8)
- Plaques de serrage(47)
Optique
Le système de palettes ZEISS OMEGA est conçu pour les instruments de mesure optique ZEISS O-INspect, O-DETECT et O-SELECT. Les palettes sont disponibles avec une surface lisse, faite de verre adapté aux mesures de lumière transmise, ou noire anodisée avec des grilles de forage adaptées à vos propres conceptions avec différentes tailles de fil.
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