Optique

Le système de palettes ZEISS OMEGA est conçu pour les instruments de mesure optique ZEISS O-INspect, O-DETECT et O-SELECT. Les palettes sont disponibles avec une surface lisse, faite de verre adapté aux mesures de lumière transmise, ou noire anodisée avec des grilles de forage adaptées à vos propres conceptions avec différentes tailles de fil.

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